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Ces dernières années les systèmes d'inspection par rayons x et par tomographie numérique se sont fortement développés car ils permettent une inspection non destructive des composants électroniques et des pièces industrielles, mais aussi de gagner en productivité. Suite au succès de la première édition, Nikon Metrology a le plaisir de vous inviter à la 2e conférence de tomographie le jeudi 18 février à Evry. En tant qu'acteur majeur dans ce domaine, l'entreprise vous proposera lors de cette conférence toute son expertise.

PROGRAMME

- 08h45 - Accueil des participants et enregistrement
-9h00 - Introduction
-9h15 - Avantages de l'inspection par tomographie numérique dans la fabrication additive (principalement métal). M. Yannick Loisance, Multistation
-10h15 - Automatisation de l'inspection par tomographie numérique pour améliorer la productivité. M. Loïc Marquet, Nikon Metrology
-11h15 - Démonstration sur le système XTH 225 (inspection de pièces industrielles)
 
-12h15 – Déjeuner
-13h30 - Problématiques liées au testing de cartes électroniques : analyse de défaillances Rayons X / ultra-sons, thermo… Mme Diane ECOIFFIER, Insidix
-14h30 - Laminographie: pour une visualisation 3D des cartes électroniques, intervenant du centre d’excellence de Nikon Metrology UK
-15h30 - Démonstration sur le système XTV 160 (inspection de composants électroniques) 

Chaque intervention sera suivie d’une séquence de questions / réponses.

Visitez le site :
www.nikonmetrology.com/fr_EU/Events/European-Events-Calendar/18-Fevrier-2eme-conference-de-tomographie-de-Nikon-Metrology

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