En poursuivant votre navigation sur ce site, vous acceptez l’utilisation de Cookies pour vous permettre de conserver votre identification et nous permettre de réaliser des statistiques de visites. Accepter Refuser

RECHERCHER SUR LE SITE
TOUTES LES RUBRIQUES
MESURES
CND
OPTIQUE
AUTOMATISMES
MANAGEMENT
DOSSIERS
A-LA-UNE
AGENDA
A lA UNE
INFOS MARCHE
INFOS PRODUITS
ARCHIVES
Revue Contrôles Essais Mesures
Infos marché

Note moyenne de l'article

Cet article vous a-t-il plu ?
Donnez une note de 1 à 5 étoiles

Par

Ces dernières années les systèmes d'inspection par rayons x et par tomographie numérique se sont fortement développés car ils permettent une inspection non destructive des composants électroniques et des pièces industrielles, mais aussi de gagner en productivité. Suite au succès de la première édition, Nikon Metrology a le plaisir de vous inviter à la 2e conférence de tomographie le jeudi 18 février à Evry. En tant qu'acteur majeur dans ce domaine, l'entreprise vous proposera lors de cette conférence toute son expertise.

PROGRAMME

- 08h45 - Accueil des participants et enregistrement
-9h00 - Introduction
-9h15 - Avantages de l'inspection par tomographie numérique dans la fabrication additive (principalement métal). M. Yannick Loisance, Multistation
-10h15 - Automatisation de l'inspection par tomographie numérique pour améliorer la productivité. M. Loïc Marquet, Nikon Metrology
-11h15 - Démonstration sur le système XTH 225 (inspection de pièces industrielles)
 
-12h15 – Déjeuner
-13h30 - Problématiques liées au testing de cartes électroniques : analyse de défaillances Rayons X / ultra-sons, thermo… Mme Diane ECOIFFIER, Insidix
-14h30 - Laminographie: pour une visualisation 3D des cartes électroniques, intervenant du centre d’excellence de Nikon Metrology UK
-15h30 - Démonstration sur le système XTV 160 (inspection de composants électroniques) 

Chaque intervention sera suivie d’une séquence de questions / réponses.

Visitez le site :
www.nikonmetrology.com/fr_EU/Events/European-Events-Calendar/18-Fevrier-2eme-conference-de-tomographie-de-Nikon-Metrology

Note moyenne de l'article

Cet article vous a-t-il plu ?
Donnez une note de 1 à 5 étoiles

Infos marché
Dans le cadre de sa stratégie de service pour systèmes d’entraînement sur le territoire français, Leroy-Somer vient d’inaugurer deux nouveaux sites, près de Lille et à Beaucourt. Ces nouvelles installations ultramodernes compl& [...]
Infos produits
Pourquoi et comment utiliser les réseaux sociaux différemment pour garantir le succès et la rentabilité de vos activités. Avec l’usage sans cesse croissant des réseaux sociaux, les entreprises ont plus de moyens que jamais de constr [...]
Infos marché
RS Components (RS), la marque d’Electrocomponents plc, nomme Marianne Culver en tant que President RS Components. Elle rejoint l’entreprise dès maintenant en tant que membre de l’équipe de direction (Executive Management Team), reportant directemen [...]
Cognex Corporation a étendu ses capacités de vision 3D avec la récente acquisition de deux entreprises spécialisées en technologies de vision industrielle 3D. C'est d'abord EnShape GmbH qui a été racheté, un développe [...]
Infos produits
La division Nano Surface de Bruker et le Cetim annoncent l’installation par Bruker de la machine à mesurer tridimensionnelle Contour CMM au Cetim. L’accord de collaboration entre Bruker et le Cetim vise à valider, sur une période d’un an, la [...]