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Dans le cadre de son programme de Journée Technique de l’année, le Collège Français de Métrologie propose une Journée sur un sujet d’actualité : les nouvelles technologies de rayons X pour la mesure.

Cette Journée aura lieu le 3 décembre prochain à Paris.

En effet la tomographie 3D par rayons X est aujourd'hui la technologie incontournable pour détecter des défauts en volume dans des pièces mécaniques et réaliser des mesures dimensionnelles non accessibles par la surface.

Elle prend tout son sens pour des pièces réalisées par impression 3D mais aussi pour des pièces  réalisées par usinage classique.

Cette journée technique fera intervenir des experts du domaine qui présenteront les principes de la technologie RX et de la tomographie 3D, les possibilités offertes en termes de métrologie des pièces à mesurer. Une application pour l'automobile sera présentée par un équipementier et tout un panel d'applications dans divers domaines sera présenté par un prestataire de service de mesures par RX. Enfin le sujet de la fabrication additive et la détection de défauts sur des grandes pièces seront abordées.

Les intervenants de la Journée sont issus des sociétés suivantes : Aptiv, Carl Zeiss, Cetim Sud Ouest, Rubis Control, Trelleborg, Volume Graphics. 

Cette journée s'adresse aux industriels de tous domaines ayant des problématiques de mesures et détection de défauts en volume sur des pièces pour du contrôle de fabrication, du contrôle d'entrée ou du contrôle de sortie.

L’inscription est ouverte pour la journée auprès du CFM au tarif de 390 euros HT (TVA 20% en sus), les adhérents du CFM bénéficient de 50 % de réduction sur ce tarif.

Visitez le site :
www.cfmetrologie.com/fr/journee-technique/technologies-rayons-x-mesure-detail

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