Contrôles Essais Mesures
samedi 28 janvier 2023
  • Découvrez-nous !
  • Recevez notre newsletter
  • Contactez-nous
  • Français
  • English
  • Articles
    • Mesures
    • Contrôles non destructifs
    • Optique
    • Automatismes
    • Informatique industrielle
    • Management
    • Type d’info
      • Info marché
      • Info produit
  • Avis d’experts
  • Agenda
  • Les vitrines du marché
  • Podcasts
    • Métrolaudio
    • Questions de métrologie
    • 3 questions à…
    • Editos
  • Kit média
Aucun résultat
Voir tous les résultats
  • Articles
    • Mesures
    • Contrôles non destructifs
    • Optique
    • Automatismes
    • Informatique industrielle
    • Management
    • Type d’info
      • Info marché
      • Info produit
  • Avis d’experts
  • Agenda
  • Les vitrines du marché
  • Podcasts
    • Métrolaudio
    • Questions de métrologie
    • 3 questions à…
    • Editos
  • Kit média
Aucun résultat
Voir tous les résultats
Contrôles Essais Mesures
Aucun résultat
Voir tous les résultats
Accueil Contrôles non destructifs

Journée technique consacrée aux technologies de micro-analyse pour l’électronique

Par Contrôles Essais Mesures
23 janvier 2020
dans Contrôles non destructifs
Temps de lecture : 1 min
Journée Technique - Conception graphique
Partager sur LinkedInPartager sur FacebookPartager sur Twitter

Insidix et Nikon organisent un workshop permettant de découvrir les dernières évolutions des technologies de micro-analyses de composants et cartes électroniques : optique 2D et 3D, MEB, rayons X 2D et 3D, thermique, ultrasons et thermomécanique.

Cette journée technique aura lieu mardi 4 février 2020 dans les locaux de la société Insidix, 14 rue Henri Dunant, 38180 Seyssins.

Programme :
– 9h00 : Accueil des participants
– 9h30 – 10h30 : Expertises avancées pour la localisation rapide de défauts internes
– 11h00 – 12h00 : Shop floor 4.0 in Computed Tomography: New paradigm shift
– 12h30 : Déjeuner
– 14h00 -15h00 : La microscopie électronique à balayage, le passage de l’optique à l’imagerie électronique et à l’analyse chimique de manière fluide
La gamme Nexiv by Nikon : ‘’La solution rapide et automatique pour des mesures de hautes précisions’’

9h30 – 16h00 : Accès libre en salle de démonstration sur l’ensemble des équipements

Pour s’inscrire :
https://www.nikonmetrology.com/fr/index.php?option=com_content&view=article&id=463

Etiquettes : Info marché
Article précédent

Une profession mobilisée pour la 3e édition de Forum Labo

Article suivant

Trescal annonce quatre acquisitions

Articles liés

Contrôles non destructifs

Extech fait passer la surveillance de la qualité de l’air intérieur au niveau supérieur

Le nouvel enregistreur de données de température et d'humidité de la série 42280A d'Extech présente un certain nombre d'améliorations notables par rapport à l'ancien modèle de la société qui connaît...

Par La rédaction
26 janvier 2023
Contrôles non destructifs

Surveillance et observation des stockages de déchets radioactifs : l’Andra et le LNE renouvellent leur accord

Le mardi 10 janvier 2023, Pierre-Marie Abadie Directeur général de l'Agence nationale pour la gestion des déchets radioactifs (Andra) et Thomas Grenon, Directeur général du Laboratoire national de métrologie et...

Par La rédaction
25 janvier 2023
Contrôles non destructifs

Lynn La Pietra, responsable de la R&D de Carestream remporte un Silver Stevie Award

La responsable de la R&D numérique de Carestream NDT remporte une récompense prestigieuse lors des 2022 Stevie Awards for Women in Business Saluée pour ses efforts en matière d'innovation, Lynn...

Par La rédaction
21 décembre 2022
Contrôles non destructifs

Nouveautés HTDS : caméras X-ray très bas niveau de bruit pour le CND

Toujours à la pointe de l’innovation, HTDS élargit son offre produit en Optoélectronique et annonce la commercialisation de caméras X-ray pour le contrôle non destructif (CND). L’objectif du contrôle non...

Par La rédaction
1 décembre 2022
Contrôles non destructifs

La nouvelle plateforme logicielle VXintegrity

Dans le but de permettre aux prestataires de services CND de fournir des services à forte valeur ajoutée et aux propriétaires d'actifs industriels de prendre les meilleures décisions en matière...

Par La rédaction
18 novembre 2022
Contrôles non destructifs

Un logiciel pour garantir la sécurité des assemblages boulonnés

La nouvelle génération de logiciels de Kistler simplifie l'utilisation des systèmes de test d'outils dynamométriques La nouvelle génération du logiciel Ceus 10 de Kistler tire parti de l'utilisation intuitive du...

Par La rédaction
14 novembre 2022
Article suivant
Débitmètre massique - Pression

Trescal annonce quatre acquisitions

Notre dernier numéro

Pour davantage d’articles de fond, abonnez-vous à la revue Contrôles Essais Mesures.

Les vitrines du marché

Publicité

Newsletter

Recevez gratuitement et à chaque publication les infos du site Contrôles Essais Mesures

Vous pouvez vous désinscrire à tout moment. Vos données sont traitées selon notre politique de confidentialité.

Merci !

Veuillez maintenant vérifier votre boite de réception ou votre dossier d’indésirables pour confirmer votre abonnement.

.

Nos partenaires

Contrôles Essais Mesures

© 2021 Contrôles Essais Mesures, la revue des technologies et applications pour les laboratoires et l'industrie.

Vous voulez ?

  • Contact
  • Qui sommes-nous ?
  • Devenir annonceur
  • Plan du site
  • Mentions légales
  • Protection des données
  • Se désabonner de la newsletter

Suivez-nous

Aucun résultat
Voir tous les résultats
  • Catégories d’articles
    • Mesures
    • Contrôles non destructifs
    • Optique
    • Automatismes
    • Management
  • Avis d’experts
  • La revue
    • Présentation
    • Kit média 2021
  • Agenda
  • Les vitrines du marché
  • Podcasts
    • Métrolaudio
    • Questions de métrologie
    • 3 questions à…
    • Editos
  • Contact
  • Français
  • English

© 2021 Contrôles Essais Mesures, la revue des technologies et applications pour les laboratoires et l'industrie.

Ce site utilise des cookies. Vous pouvez visiter notre politique de protection ds données personnelles pour en savoir plus.
X