Insidix et Nikon organisent un workshop permettant de découvrir les dernières évolutions des technologies de micro-analyses de composants et cartes électroniques : optique 2D et 3D, MEB, rayons X 2D et 3D, thermique, ultrasons et thermomécanique.
Cette journée technique aura lieu mardi 4 février 2020 dans les locaux de la société Insidix, 14 rue Henri Dunant, 38180 Seyssins.
Programme :
– 9h00 : Accueil des participants
– 9h30 – 10h30 : Expertises avancées pour la localisation rapide de défauts internes
– 11h00 – 12h00 : Shop floor 4.0 in Computed Tomography: New paradigm shift
– 12h30 : Déjeuner
– 14h00 -15h00 : La microscopie électronique à balayage, le passage de l’optique à l’imagerie électronique et à l’analyse chimique de manière fluide
La gamme Nexiv by Nikon : ‘’La solution rapide et automatique pour des mesures de hautes précisions’’
9h30 – 16h00 : Accès libre en salle de démonstration sur l’ensemble des équipements
Pour s’inscrire :
https://www.nikonmetrology.com/fr/index.php?option=com_content&view=article&id=463
