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Le Collège Français de Métrologie vient d’éditer un ouvrage intitulé « Application du nouveau concept d’étalonnage du VIM 3 ». L’ouvrage a été rédigé par un groupe de travail du CFM composé des organismes suivants : Arts et Métiers Paris Tech, ASPA, CEA/CESTA, CETIAT, CT2M, DELTA MU, LNE, PSA, TRESCAL, VOLVO POWERTRAIN.
L’objectif de ce document est d’aider les métrologues et les utilisateurs d’instruments de mesure à appréhender la nouvelle définition de l’étalonnage introduite par la troisième édition du Vocabulaire International de Métrologie (VIM) et de fournir des éléments pour sa mise en œuvre au sein des laboratoires d’étalonnage.
De fait, ce guide constitue une introduction à la compréhension de la modélisation des résultats d’un étalonnage. Il décrit et illustre les méthodes de modélisation, fournit les éléments, notamment statistiques, pour évaluer les paramètres d’un modèle et le valider. Une méthodologie pour le choix de la méthode de modélisation est proposée en fonction des informations disponibles par le métrologue ainsi que les livrables attendus dans un certificat d’étalonnage selon cette nouvelle définition.Ce guide est illustré par des exemples pour mieux comprendre les méthodes et méthodologies décrites ainsi que les implications concrètes dans les processus d’étalonnage de cette nouvelle définition.
Enfin, il faut noter qu’un logiciel de modélisation des résultats d’étalonnage intitulé M-CARE a été développé sur la base des méthodes préconisées par le guide. Réalisé avec le support de la DGCIS (Direction Générale de la Compétitivité, de l’Industrie et des Services), le logiciel est disponible gratuitement sur le site web du CFM.
Note : Application du nouveau concept d’étalonnage du VIM 3 – Edition CFM – ISBN 2-915416-13-3Tarif de vente : 95.00 euros HT, TVA 5.5% en sus, frais de port 6.50 euros
Mehr erfahren : www.cfmetrologie.com
