{"id":20736,"date":"2024-01-19T07:00:00","date_gmt":"2024-01-19T06:00:00","guid":{"rendered":"https:\/\/www.controles-essais-mesures.fr\/?p=20736"},"modified":"2024-01-19T07:00:00","modified_gmt":"2024-01-19T06:00:00","slug":"un-nouveau-systeme-dinspection-pour-lindustrie-des-semi-conducteurs","status":"publish","type":"post","link":"https:\/\/www.controles-essais-mesures.fr\/de\/zerstorungsfreie-prufungen\/un-nouveau-systeme-dinspection-pour-lindustrie-des-semi-conducteurs\/","title":{"rendered":"Un nouveau syst\u00e8me d&rsquo;inspection pour l&rsquo;industrie des semi-conducteurs"},"content":{"rendered":"<p>Les fabricants de semi-conducteurs sont tr\u00e8s sollicit\u00e9s, car les cycles d&rsquo;innovation sont de plus en plus courts, tandis que la complexit\u00e9 des circuits int\u00e9gr\u00e9s ne cesse d&rsquo;augmenter. Pour rester comp\u00e9titif, l&rsquo;accent est mis sur la r\u00e9duction des co\u00fbts d&rsquo;investissement et l&rsquo;acc\u00e9l\u00e9ration des processus de mont\u00e9e en puissance afin d&rsquo;obtenir plus rapidement une production sans erreur de nouveaux composants \u00e0 haute performance. L&rsquo;identification pr\u00e9coce des d\u00e9fauts critiques acc\u00e9l\u00e8re consid\u00e9rablement le d\u00e9veloppement et l&rsquo;optimisation de nouveaux processus de production et donc le d\u00e9marrage de la production de nouvelles g\u00e9n\u00e9rations de puces.<\/p><p>Les images tridimensionnelles obtenues avec une r\u00e9solution inf\u00e9rieure \u00e0 1 <span class=\"special-char\">\u00b5<\/span>m permettent d&rsquo;identifier de mani\u00e8re fiable les d\u00e9fauts typiques des connexions de soudure des circuits int\u00e9gr\u00e9s. Avec le syst\u00e8me d&rsquo;inspection CA20, Comet Yxlon met la technologie 3D \u00e0 rayons X \u00e0 la port\u00e9e de l&rsquo;industrie du conditionnement des semi-conducteurs avanc\u00e9s. La refonte compl\u00e8te du mat\u00e9riel, optimis\u00e9 pour les applications de semi-conducteurs en termes de stabilit\u00e9, d&rsquo;imagerie, de pr\u00e9cision et d&rsquo;exigences de maintenance, associ\u00e9e \u00e0 la laminographie informatis\u00e9e \u00e0 haute r\u00e9solution et \u00e0 des logiciels tels que Dose Manager, Batch Manager et \u00ab\u00a0Insights\u00a0\u00bb pour les \u00e9valuations automatis\u00e9es, garantit la pr\u00e9cision, la fiabilit\u00e9 et l&rsquo;efficacit\u00e9 de toutes les t\u00e2ches d&rsquo;inspection. Toutes les fonctions sont facilement et intuitivement accessibles via l&rsquo;interface utilisateur Geminy qui a fait ses preuves dans les gammes de produits Comet Yxlon FF et UX, \u00e9quip\u00e9e de symboles graphiques, d&rsquo;assistants et de divers pr\u00e9r\u00e9glages pour tous les niveaux de comp\u00e9tence.<\/p><p>Comet Yxlon rappelle que les plus petites erreurs sont les plus grands d\u00e9fis du monde d&rsquo;aujourd&rsquo;hui, et Comet Yxlon les rend visibles gr\u00e2ce \u00e0 sa technologie, conform\u00e9ment \u00e0 sa promesse : \u00ab\u00a0<em>See better. Faster. More<\/em>. \"<br \/><br \/><em>\u00ab En tant que m\u00e9thode d&rsquo;inspection accompagnant d\u00e9j\u00e0 la recherche et le d\u00e9veloppement de nouvelles puces et de leurs processus de production, le nouveau CA20 va r\u00e9volutionner l&rsquo;industrie des semi-conducteurs, <\/em>a d\u00e9clar\u00e9 Christian Driller, vice-pr\u00e9sident de la R&amp;D chez Comet Yxlon.<em> Le CA20 permettra d&rsquo;acc\u00e9l\u00e9rer consid\u00e9rablement les processus de mont\u00e9e en puissance et les d\u00e9lais de mise sur le march\u00e9, de r\u00e9duire le taux de rebut \u00e9lev\u00e9 actuel et d&rsquo;augmenter consid\u00e9rablement le rendement. Le syst\u00e8me permet d&rsquo;atteindre l&rsquo;objectif du z\u00e9ro d\u00e9faut. \u00bb<\/em><\/p>","protected":false},"excerpt":{"rendered":"<p>Les fabricants de semi-conducteurs sont tr\u00e8s sollicit\u00e9s, car les cycles d&rsquo;innovation sont de plus en plus courts, tandis que la complexit\u00e9 des circuits int\u00e9gr\u00e9s ne cesse d&rsquo;augmenter. 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