Nikon Metrology organise une journée technique sur la tomographie. Elle aura lieu dans les locaux de la société (91) le mardi 10 février 2015 de 9h à 16h. Le programme prévisionnel est le suivant :
– Accueil
– Présentation générale de Nikon Metrology
– Systèmes d’inspection de composants électroniques par rayons-X et de tomographie numérique. Des solutions adaptées à toutes les applications
– La métrologie par tomographie numérique
– Systèmes de haute puissance : source rayons X microfocus 450/750 KV unique au monde pour l’inspection non destructive et la mesure des pièces massives avec une précision sans précèdent.
– présentation des nouveautés
X-tract, nouveau module logiciel pour un aperçu plus détaillé des assemblages de circuits imprimés multicouches et des composants électroniques complexes.
Inspect-x 4 : permet une inspection intuitive des circuits imprimés, des composants ou des appareils électriques dans un processus non destructif automatisé.
– Cas d’applications clients
– Buffet
– Ateliers et démonstrations sur les machines XTH225 / XTV160
Inscription obligatoire avant le 3 février par le lien ci-dessous
En savoir plus : https://www.nikonmetrology.com/fr_EU/Events/European-Events-Calendar/Journee-Technique-Tomographie