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Voilà … les portes du CIM 2017 se sont fermées !
Le Congrès international de métrologie (CIM) est un lieu unique en Europe car il présente tous les sujets techniques possibles et rassemble tous les acteurs de la mesure : de la R&D aux industriels utilisateurs de moyens de mesure.
Il est organisé depuis 2011 en conjonction avec Enova, salon des technologies electronique, embarqué, IoT, mesure, vision, optique.
L’édition 2017 a confirmé sa place avec un mélange très équilibré entre des échanges sur les bonnes pratiques mesure du quotidien des industriels, et, des présentations à caractère plus futuriste liées aux mutations de l’usine du futur.
Le bilan 2017 affiche une belle stabilité au niveau des participants et une superbe croissance de la partie exposition.
Les chiffres clés sont les suivants :
- 840 participants et exposants, ont assisté au congrès (813 en 2015) ;
- 45 pays différents étaient présents, et 30 % des participants sont issus de l’étranger ;
- 78 sociétés exposaient sur le Village Métrologie situé au sein du Salon Enova (+37 % par rapport à 2015 !) ;
- le niveau technique est jugé excellent ou satisfaisant par 93 % des participants ;
- les possibilités d’application ressortent comme excellentes ou satisfaisantes dans 84 % des cas ;
- 192 conférences ont été présentées en sessions orale ou poster.
Une ouverture remarquable prononcée par Pascal Faure, directeur de la direction générale des Entreprises du ministère de l’Economie et des Finances
Voici un extrait de ce discours : « Aujourd’hui, plus encore qu’hier, la métrologie, la science et les techniques de la mesure, sont des facteurs de réussite indispensables d’une politique industrielle moderne et dynamique. (…)
Car chacun d’entre vous sait combien la maîtrise de la mesure est cruciale sur l’ensemble de la chaîne de valeur : de la R&D en laboratoire jusqu’aux contrôles finaux. Nous sommes entrés dans une ère d’innovation à des rythmes jamais vus auparavant, et cette innovation requiert des outils de mesure toujours plus performants et fiables. (…)
Lieu unique en Europe et dans le monde où les questions autour de la métrologie peuvent être discutées et où l’information nécessaire au développement d’une culture métrologique est diffusée : ce congrès, de mon point de vue, est un rendez-vous incontournable. »
Le top 5 des sessions qui ont rencontré le plus large public :
- la session plénière exceptionnelle « Mesurer pour inventer le futur » avec près de 200 personnes en salle ;
- puis les sessions « Métrologie 4.0 » et « Incertitudes et concepts métrologiques » ;
- ensuite les sujets « Nouvelle ISO/CEI 17 025 » et « Flexibilité des mesures optiques » ;
- et des tables rondes « Métrologie pour l’industrie pharmaceutique » et « Mesure dynamique et usine du futur » qui ont créé des échanges nourris !
Et de la R&D haut de gamme…
Le CIM a été conclu par une intervention remarquable de Madame Violaine Sautter, du Museum National d’Histoire Naturelle, qui a présenté les travaux menés sur l’instrumentation du Rover Curiosity envoyé sur la planète Mars.
La clôture du CIM a aussi été l’occasion de récompenser deux conférences de haut niveau technique pour la qualité de leur contenu et de leur présentation :
- la meilleure conférence orale par Henri Foulon, Cesame Exadébit, pour le sujet « Mesure de débit cryogénique par la vélocimétrie laser doppler »,
- la meilleure conférence poster par Timo Donsberg de l’Université d’Aalto en Finlande, « Détecteur à rendement quantique prédictible basé sur des photodiodes au silicium de type n ».
Le Congrès rassemble tous les publics et acteurs du secteur de la mesure :
- 64 % sont des industriels : utilisateurs de moyens de mesure dans tout type de secteur, laboratoires d’analyses, laboratoires de métrologie, prestataires ou fabricants de matériels… ;
- 23 % sont issus des grands organismes nationaux et internationaux : laboratoire national des grands pays européens, Ministères, organismes d’accréditation, organisations internationales… ;
- 10 % des universitaires ou des chercheurs ;
- 3 % des participants sont d’origines diverses : hôpitaux, organisme de formation, consultant, presse…
Le Collège français de métrologie, organisateur du CIM, souhaite remercier chaleureusement l’ensemble des partenaires qui ont participé à la création et au succès de l’édition 2017 :
- les membres du Comité d’Organisation : A3P, Afnor Normalisation, BEA Métrologie, BIPM, COFRAC, EA, Euramet, FPS Economie, LNE, Metro-Logix, NCSL International, NPL, OIML, Peugeot Citroën Automobiles, STIL, Université de Bourgogne, Wika ;
- les sponsors : Trescal sponsor principal et Cetiat, Hexagon Manufacturing Intelligence, Implex, et Polyworks ;
- les soutiens institutionnels : le ministère de l’Economie et des Finances et la DGE, le ministère de la Culture.
En savoir plus : www.cim2017.com
