Omron propose une mise à jour de son système de vision FH, intégrant une IA avancée pour affiner la détection des défauts dans des environnements industriels variés.
Omron développe son système de vision FH par l’introduction de fonctionnalités d’intelligence artificielle optimisées. Cette mise à jour vise à réduire la surdétection et à assurer des résultats fiables, même dans des conditions de surface difficiles, telles que les environnements texturés ou réfléchissants.
La détection des défauts repose sur une intelligence artificielle améliorée qui sélectionne automatiquement les images de test les plus ajustées pour générer un modèle de défauts. Ce processus élimine les erreurs humaines et préjugés, assurant une constance dans les résultats d’inspection. Moins d’images sont donc requises pour une détection précise, ce qui simplifie la configuration du système.
Une innovation notable réside dans la capacité de l’algorithme d’intelligence artificielle à analyser des arrière-plans complexes, incluant des conditions ardues comme les marques de soudure ou les motifs de surface. Le système prend en charge un mode de déclenchement aléatoire multiligne, permettant à un seul contrôleur FH de gérer jusqu’à huit caméras individuellement, optimisant le déploiement dans des environnements d’inspection exigeants.
