Proposé par Polytec France, Micro.View+ est un système de métrologie optique nouvelle génération.
Selon l’entreprise, les innovations « Focus Finder » (recherche de focus) et « Focus Tracker » (suivi du focus) améliorent considérablement la facilité d’utilisation dans toutes les conditions : contrôle qualité en laboratoire et ligne de production. De plus, la technologie de balayage continu « CST » permet d’utiliser toute la plage de déplacement comme plage de mesure étendue soit jusqu’à 100 mm.
À son actif également : détection des défauts et distorsions visuelles avec l’analyse d’imagerie couleur, et quantification de la topographie de surface avec une résolution inférieure au nanomètre et capture les détails de manière fiable.
TopMap Micro.View, profilomètre 3D compact (table-top) :
- Analyse l’état de surface : écart de forme, ondulation, rugosité, texture, topographie de microstructure
- Plage de mesure Z de 100 mm avec résolution nanométrique
- Solution de contrôle qualité économique
TopMap Micro.View+, prochaine génération de profilomètre 3D :
- Interféromètre à lumière blanche haute performance avec résolution nanométrique
- Automatisation mesure avec les nouveautés Focus Finder et Focus Tracker
- Axes X, Y, Z, inclinaison échantillon et, tourelle porteobjectifs : motorisés et automatisés