Le nouveau phoenix x|aminer de la branche Inspection Technologies de GE est un système de contrôle à rayons X et microfoyer à 5 axes développé pour les applications de contrôle qualité dans la fabrication de sous-structures électroniques. Il convient tout particulièrement au contrôle fiable et précis des joints brasés. Le phoenix x|aminer possède un fort grossissement haute résolution de 2 mégapixels, son logiciel d’imagerie puissant, permettant une programmation intuitive et une manipulation des composant, est précis et facile en utilisant une souris ou une manette.
Comme Tobias Neubrand, chef de produit de la gamme de produits phoenix, l’explique : « la fiabilité des sous-structures électroniques dépend fortement de la qualité des joints brasés et avec la technologie de fabrication d’aujourd’hui, nombre de joints brasés ne sont plus directement visibles. Le x|aminer est le dernier ajout à notre gamme de contrôle de sous-structures électroniques et offre une reconnaissance fiable dans un système pouvant être facilement automatisé, avec une zone de contrôle pouvant accepter de vastes cartes à circuit imprimé. »
Une importante caractéristique de conception du nouveau système est son module à fort grossissement (ovhm) à vue oblique. L’ovhm permet une vue à angle oblique jusqu’à 70 ° avec pratiquement aucune baisse du grossissement total allant jusqu’à > 23 000x, garantissant la meilleure qualité possible des informations sur les défauts dans le sens vertical. Une simplicité d’entretien est également possible grâce à la conception ouverte à tubes microfoyers 160 kV du système, dont le remplacement facile de la cathode garantit une durée de vie illimitée, tandis que ses 20 W de puissance de tube pour la cible peuvent même pénétrer dans les composants absorbant le plus les rayonnements.
Le nouveau x|aminer est fourni avec le dernier logiciel phoenix x|act, dont l’enregistrement macro simple permet une programmation intuitive des tâches de contrôle en termes de paramètres de position et d’image, avec tous les paramètres d’affichage enregistrés en un seul clic de souris. Des cartes échantillons sont créées automatiquement et peuvent être utilisées pour toutes les cartes de circuit imprimé de même type dans le système, et l’amélioration de l’image automatique même pivotée et retournée assure une plus grande probabilité de détection des défauts.
En savoir plus : www.ge-mcs.com/phoenix