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Accueil Mesures

Métrologie optique avancée : lancement d’une nouvelle plateforme de connaissances créée en collaboration avec des experts

Par Evident Olympus
2 novembre 2020
dans Mesures
Temps de lecture : 3 min
Microscope - Microscopie confocale
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Olympus s’est adjoint des experts pour la création d’une plateforme de connaissances collaborative offrant du contenu numérique dédiée à la métrologie optique avancée, mettant ainsi une ressource précieuse au service des chercheurs du domaine de la métrologie optique et de la microscopie industrielle. Constamment actualisée, cette plateforme réunissant des documents spécialisés a été créée en collaboration avec des experts de premier plan du monde universitaire et de l’industrie. Les chercheurs pourront la consulter pour alimenter leurs travaux, s’informer sur les nouvelles avancées du domaine et en apprendre davantage sur les rouages de la publication d’articles scientifiques.

Afin de répondre au besoin de contenu récent provenant d’experts du domaine, Olympus a créé une plateforme de connaissances collaborative offrant du contenu numérique dédiée à la métrologie optique avancée (Advanced Optical Metrology Hub) en partenariat avec Wiley, une maison d’édition américaine spécialisée dans la publication de revues scientifiques, d’ouvrages techniques, universitaires et encyclopédiques. Cette plateforme réunit le meilleur en matière de microscopie industrielle, d’édition scientifique et d’expertise universitaire et industrielle. Cette nouvelle initiative s’inscrit dans l’engagement d’Olympus visant à créer des ponts avec les centres d’excellence en microscopie en vue d’améliorer et de favoriser le dialogue entre les secteurs de la recherche fondamentale et des applications industrielles.

Les livres numériques hébergés sur cette plateforme sont un excellent moyen pour les chercheurs d’accéder à du contenu fiable, pertinent et actualisé profitant à l’avancement de leurs travaux. Les chercheurs peuvent également collaborer eux-mêmes à la plateforme, ce qui leur permet d’élargir la portée de leurs travaux et d’en apprendre davantage sur le processus entourant la publication d’articles scientifiques.

Le premier livre numérique publié sur la plateforme présente des articles sur la fabrication additive, axés notamment sur la fusion par faisceau d’électrons, la stéréolithographie et la cristallisation assistée par laser. Le contenu de base de ce livre provient du réseau de collaboration Olympus Links, lequel regroupe des centres d’excellence industriels et universitaires européens. Des livres numériques portant sur les films minces, les capteurs, la rugosité, la puissance et les composants électroniques seront ajoutés prochainement à la plateforme.

Commentant ce lancement, Markus Fabich, directeur du marketing stratégique pour le secteur de la microscopie industrielle chez Olympus, a déclaré : « Il s’agit d’une nouvelle ressource formidable permettant aux chercheurs à la fois d’enrichir leurs connaissances et d’apporter leur contribution. Ces livres numériques fourniront des aperçus pratiques et concis des derniers développements en métrologie pour un domaine d’application spécifique; ce sera une ressource très utile, tant pour les universités que pour l’industrie. »

À titre de leader mondial de la microscopie, Olympus fournit depuis plus de 100 ans des systèmes de microscope aux marchés industriels. Les systèmes d’Olympus offrent la précision et la fiabilité requises pour toute une gamme d’applications des domaines de la recherche universitaire, du développement de produits, du contrôle de la qualité et de l’inspection en service. La gamme des produits d’Olympus pour la microscopie industrielle comprend des microscopes optiques, numériques, confocaux et des stéréomicroscopes, ainsi que des caméras et des logiciels.

John Wiley & Sons, Inc. est une maison d’édition américaine spécialisée dans la publication de revues scientifiques, d’ouvrages techniques, universitaires et encyclopédiques. La société a acquis une expertise dans le domaine de la microscopie notamment grâce à la plateforme « Microscopy and Analysis » et à d’autres publications comme la revue scientifique Journal of Microscopy, évaluée par des pairs.

La plateforme de connaissances collaborative « Advanced Optical Metrology Hub » est accessible à l’adresse www.advancedopticalmetrology.com

Pour plus d’informations sur les produits et services d’Olympus, consultez notre site Web à l’adresse www.olympus-ims.com

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